Properties of porous silicon /

Détails bibliographiques
Cote:Libro Electrónico
Collectivité auteur: INSPEC (Information service)
Autres auteurs: Canham, Leigh T.
Format: Électronique eBook
Langue:Inglés
Publié: London : IEE : INSPEC, ©1987.
Collection:EMIS datareviews series ; no. 18.
Sujets:
Porous silicon.
Semiconductors.
Silicium poreux.
Semi-conducteurs.
semiconductor.
Porous silicon
Semiconductors
Semiconducteurs.
Optoélectronique.
Silicium.
Matériaux poreux.
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