Heyman, J. S. (1988). Electronics reliability and measurement technology: Nondestructive evaluation. Noyes Data Corp..
Style de citation Chicago (17e éd.)Heyman, Joseph S. Electronics Reliability and Measurement Technology: Nondestructive Evaluation. Park Ridge, N.J., U.S.A.: Noyes Data Corp., 1988.
Style de citation MLA (8e éd.)Heyman, Joseph S. Electronics Reliability and Measurement Technology: Nondestructive Evaluation. Noyes Data Corp., 1988.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.