Acoustic Scanning Probe Microscopy

The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mapping of surface adhesion and stiffness or friction is possible. The aim of this book is to provide a comprehensive...

Description complète

Détails bibliographiques
Cote:Libro Electrónico
Collectivité auteur: SpringerLink (Online service)
Autres auteurs: Marinello, Francesco (Éditeur intellectuel), Passeri, Daniele (Éditeur intellectuel), Savio, Enrico (Éditeur intellectuel)
Format: Électronique eBook
Langue:Inglés
Publié: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 2013.
Édition:1st ed. 2013.
Collection:NanoScience and Technology,
Sujets:
Lasers.
Microtechnology.
Microelectromechanical systems.
Acoustics.
Nanotechnology.
Materials-Analysis.
Surfaces (Technology).
Thin films.
Laser.
Microsystems and MEMS.
Characterization and Analytical Technique.
Surfaces, Interfaces and Thin Film.
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