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Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology.

Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology, Second Edition describes the recommended practices for measurements and data processing for various SPM techniques, also discussing associated numerical techniques and recommendations for further reading f...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Klapetek, Petr
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: San Diego : Elsevier Science, 2018.
Edición:2nd ed.
Colección:Micro & nano technologies.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo