Cargando…

Output measurement in science and technology : essays in honor of Yvan Fabian /

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Fabian, Yvan, Freeman, Christopher
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Amsterdam ; New York : New York, NY, U.S.A. : North-Holland ; Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science Pub. Co., 1987.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000 a 4500
001 SCIDIR_ocn578258629
003 OCoLC
005 20231117033012.0
006 m o d
007 cr bn||||||abp
007 cr bn||||||ada
008 100326s1987 ne a ob 011 0 eng d
040 |a OCLCE  |b eng  |e pn  |c OCLCE  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d UIU  |d N$T  |d IDEBK  |d OCLCQ  |d OCLCF  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d COM  |d OCLCO  |d OCL  |d OCLCQ  |d OCLCO 
019 |a 974615853  |a 988558109  |a 1152922502 
020 |a 9781483290089  |q (electronic bk.) 
020 |a 1483290085  |q (electronic bk.) 
020 |z 0444703306 
020 |z 9780444703309 
035 |a (OCoLC)578258629  |z (OCoLC)974615853  |z (OCoLC)988558109  |z (OCoLC)1152922502 
042 |a dlr 
050 4 |a T175  |b .O87 1987 
072 7 |a TEC  |x 000000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 607/.2  |2 19 
245 0 0 |a Output measurement in science and technology :  |b essays in honor of Yvan Fabian /  |c edited by Christopher Freeman. 
260 |a Amsterdam ;  |a New York :  |b North-Holland ;  |a New York, NY, U.S.A. :  |b Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science Pub. Co.,  |c 1987. 
300 |a 1 online resource (vi, 181 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references and indexes. 
506 |3 Use copy  |f Restrictions unspecified  |2 star  |5 MiAaHDL 
533 |a Electronic reproduction.  |b [Place of publication not identified] :  |c HathiTrust Digital Library,  |d 2010.  |5 MiAaHDL 
538 |a Master and use copy. Digital master created according to Benchmark for Faithful Digital Reproductions of Monographs and Serials, Version 1. Digital Library Federation, December 2002.  |u http://purl.oclc.org/DLF/benchrepro0212  |5 MiAaHDL 
583 1 |a digitized  |c 2010  |h HathiTrust Digital Library  |l committed to preserve  |2 pda  |5 MiAaHDL 
588 0 |a Print version record. 
600 1 0 |a Fabian, Yvan. 
650 0 |a Research  |x Measurement  |x Statistical methods. 
650 0 |a Research, Industrial  |x Measurement  |x Statistical methods. 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x General.  |2 bisacsh 
600 1 7 |a Fabian, Yvan  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00228150 
655 7 |a Festschriften  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01941036 
655 7 |a Festschriften.  |2 lcgft 
700 1 |a Fabian, Yvan. 
700 1 |a Freeman, Christopher. 
776 0 8 |i Print version:  |t Output measurement in science and technology.  |d Amsterdam ; New York : North-Holland ; New York, NY, U.S.A. : Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science Pub. Co., 1987  |w (DLC) 88124252  |w (OCoLC)18496485 
856 4 0 |u https://sciencedirect.uam.elogim.com/science/book/9780444703309  |z Texto completo