Output measurement in science and technology : essays in honor of Yvan Fabian /

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Fabian, Yvan, Freeman, Christopher
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Amsterdam ; New York : New York, NY, U.S.A. : North-Holland ; Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science Pub. Co., 1987.
Temas:
Fabian, Yvan.
Fabian, Yvan
Research > Measurement > Statistical methods.
Research, Industrial > Measurement > Statistical methods.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > General.
Festschriften
Festschriften.
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