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In-situ characterization of thin film growth /

Advanced techniques for characterizing thin film growth in situ help to develop improved understanding and faster diagnosis of issues with the process. In situ characterization of thin film growth reviews current and developing techniques for characterizing the growth of thin films, covering an impo...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Koster, Gertjan, 1971-, Rijnders, Guus
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Cambridge ; Philadelphia, PA : Woodhead Pub., 2011.
Colección:Woodhead Publishing in materials.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo (Requiere registro previo con correo institucional)