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Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Infante Abreu, Marta Beatriz
Otros Autores: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Formato: Tesis eBook
Idioma:Español
Publicado: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

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