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X-ray scattering from semiconductors /

This book presents a practical guide to the analysis of materials and includes a thorough description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the tech...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Fewster, Paul F.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: London : Imperial College Press, ©2003.
Edición:2nd ed.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo
Search Result 1
por Fewster, Paul F.
Publicado 2003
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Electrónico eBook
Search Result 2
por Fewster, Paul F.
Publicado 2000
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