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Dark Count Rate of Silicon Photomultipliers : Metrological Characterization and Suppression.

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Engelmann, Eugen
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Göttingen : Cuvillier Verlag, 2018.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

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