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Leakage Current and Defect Characterization of Short Channel MOSFETs.

Annotation

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Roll, Guntrade
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Berlin : Logos Verlag Berlin, 2012.
Colección:Research at NaMLab Ser.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo
Descripción
Sumario:Annotation
Notas:8 Personal Bibliography.
Descripción Física:1 online resource (242 pages)
ISBN:9783832596668
3832596666
3832532617
9783832532611