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Leakage Current and Defect Characterization of Short Channel MOSFETs.
Annotation
| Clasificación: | Libro Electrónico |
|---|---|
| Autor principal: | |
| Formato: | Electrónico eBook |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Berlin :
Logos Verlag Berlin,
2012.
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| Colección: | Research at NaMLab Ser.
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| Temas: | |
| Acceso en línea: | Texto completo |