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Electrical Characterisation of Ferroelectric Field Effect Transistors Based on Ferroelectric HfO2 Thin Films.

Annotation

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Yurchuk, Ekaterina
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Berlin : Logos Verlag Berlin, 2015.
Colección:Research at NaMLab Ser.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo