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The Source/Drain Engineering of Nanoscale Germanium-based MOS Devices

This book mainly focuses on reducing the high parasitic resistance in the source/drain of germanium nMOSFET. With adopting of the Implantation After Germanide (IAG) technique, P and Sb co-implantation technique and Multiple Implantation and Multiple Annealing (MIMA) technique, the electron Schottky...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Li, Zhiqiang (Autor)
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 2016.
Edición:1st ed. 2016.
Colección:Springer Theses, Recognizing Outstanding Ph.D. Research,
Temas:
Acceso en línea:Texto Completo