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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films

Ellipsometry is the method of choice to determine the properties of surfaces and thin films. It provides comprehensive and sensitive characterization in contactless and non-invasive measurements. This book gives a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces,...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Otros Autores: Hinrichs, Karsten (Editor ), Eichhorn, Klaus-Jochen (Editor )
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 2014.
Edición:1st ed. 2014.
Colección:Springer Series in Surface Sciences, 52
Temas:
Acceso en línea:Texto Completo