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Ellipsometry at the Nanoscale

This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Otros Autores: Losurdo, Maria (Editor ), Hingerl, Kurt (Editor )
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 2013.
Edición:1st ed. 2013.
Temas:
Acceso en línea:Texto Completo