Cargando…

Fault Analysis in Cryptography

In the 1970s researchers noticed that radioactive particles produced by elements naturally present in packaging material could cause bits to flip in sensitive areas of electronic chips. Research into the effect of cosmic rays on semiconductors, an area of particular interest in the aerospace industr...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Otros Autores: Joye, Marc (Editor ), Tunstall, Michael (Editor )
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 2012.
Edición:1st ed. 2012.
Colección:Information Security and Cryptography,
Temas:
Acceso en línea:Texto Completo

Internet

Texto Completo

Items no disponibles

Items no disponibles

Detalle de Existencias desde