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Understanding faults : detecting, dating, and modeling /

Détails bibliographiques
Cote:Libro Electrónico
Autres auteurs: Tanner, David (Éditeur intellectuel), Brandes, Christian (Éditeur intellectuel)
Format: Électronique eBook
Langue:Inglés
Publié: Amsterdam, Netherlands : Elsevier, [2020]
Sujets:
Accès en ligne:Texto completo