Advances in electronics and electron physics. Volume 73, Aspects of charged particle optics /

ADV ELECTRONICS ELECTRON PHYSICS V73.

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Hawkes, P. W.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Boston : Academic Press, �1989.
Colección:Advances in electronics and electron physics ; 73.
Temas:
Electron optics.
Proton beams.
Electron microscopes.
Optique �electronique.
Faisceaux de protons.
Microscopes �electroniques.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Optics.
Electron microscopes
Electron optics
Proton beams
Acceso en línea:Texto completo
Tabla de Contenidos:
  • Ion optics
  • Proton microscopes and their applications
  • An early history of the electron microscopes in the United States
  • Electron beam testing.

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