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Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos

Bibliographic Details
Call Number:Libro Electrónico
Main Author: Rueda P., J. E.
Corporate Author: e-libro, Corp
Other Authors: Lasprilla, M. C.
Format: Article
Language:Español
Published: Pamplona, Colombia : Universidad de Pamplona, 2006.
Subjects:
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