The formation of structural imperfections in semiconductor silicon /

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Détails bibliographiques
Cote:Libro Electrónico
Auteurs principaux: Talanin, V. I. (Auteur), Talanin, I. E. (Auteur)
Format: Électronique eBook
Langue:Inglés
Publié: Newcastle-upon-Tyne, England : Cambridge Scholars Publishing, 2018.
Sujets:
Silicon > Structure.
Semiconductors > Impurity distribution.
Semiconductors > Materials.
Electronic books.
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