Li, H., Toh, K., & Li, L. (2012). Advanced topics in biometrics. World Scientific.
Style de citation Chicago (17e éd.)Li, Haizhou, Kar-Ann Toh, et Liyuan Li. Advanced Topics in Biometrics. Singapore ; Hackensack, NJ: World Scientific, 2012.
Style de citation MLA (8e éd.)Li, Haizhou, et al. Advanced Topics in Biometrics. World Scientific, 2012.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.