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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films

Ellipsometry is the method of choice to determine the properties of surfaces and thin films. It provides comprehensive and sensitive characterization in contactless and non-invasive measurements. This book gives a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces,...

Description complète

Détails bibliographiques
Cote:Libro Electrónico
Collectivité auteur: SpringerLink (Online service)
Autres auteurs: Hinrichs, Karsten (Éditeur intellectuel), Eichhorn, Klaus-Jochen (Éditeur intellectuel)
Format: Électronique eBook
Langue:Inglés
Publié: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 2014.
Édition:1st ed. 2014.
Collection:Springer Series in Surface Sciences, 52
Sujets:
Accès en ligne:Texto Completo