Cargando…

Advanced laser diode reliability /

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Vanzi, Massimo (Editor ), B�echou, Laurent (Editor ), Fukuda, Mitsuo (Editor ), Mura, Giovanna (Editor )
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: London : Elsevier, 2020.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000 i 4500
001 SCIDIR_on1261879821
003 OCoLC
005 20231120010556.0
006 m o d
007 cr |n|||||||||
008 210728s2020 enk o 001 0 eng d
040 |a YDX  |b eng  |e pn  |c YDX  |d OPELS  |d OCLCO  |d OCLCF  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d K6U  |d OCLCQ  |d OCLCO 
020 |a 9780081010891  |q (electronic bk.) 
020 |a 0081010893  |q (electronic bk.) 
020 |z 9781785481543 
020 |z 1785481541 
035 |a (OCoLC)1261879821 
050 4 |a TK7871.86 
082 0 4 |a 621.381522  |2 23 
245 0 0 |a Advanced laser diode reliability /  |c edited by Massimo Vanzi, Laurent B�echou, Mitsuo Fukuda, Giovanna Mura. 
264 1 |a London :  |b Elsevier,  |c 2020. 
300 |a 1 online resource 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
500 |a Includes index. 
588 0 |a Print version record. 
650 0 |a Diodes, Semiconductor  |x Reliability. 
650 6 |a Diodes �a semi-conducteur  |0 (CaQQLa)201-0022472  |x Fiabilit�e.  |0 (CaQQLa)201-0379337 
650 7 |a Diodes, Semiconductor  |x Reliability  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00894054 
700 1 |a Vanzi, Massimo,  |e editor. 
700 1 |a B�echou, Laurent,  |e editor. 
700 1 |a Fukuda, Mitsuo,  |e editor. 
700 1 |a Mura, Giovanna,  |e editor. 
776 0 8 |i Ebook version :  |z 9780081010891 
776 0 8 |i Print version:  |t Advanced laser diode reliability.  |d London : Elsevier, 2020  |z 9781785481543  |z 1785481541  |w (OCoLC)974698531 
776 0 8 |i Print version:  |a Vanzi, Massimo.  |t Advanced laser diode reliability  |z 9781785481543  |w (OCoLC)974698531 
856 4 0 |u https://sciencedirect.uam.elogim.com/science/book/9781785481543  |z Texto completo