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Advances in imaging and electron physics Volume 108, Modern map methods in particle beam physics /

Advances in Imaging & Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics & Electron Physics and Advances in Optical & Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics a...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Berz, M.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: San Diego ; London : Academic Press, �1999.
Colección:Advances in imaging and electron physics.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

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