MARC

LEADER 00000cam a2200000 i 4500
001 SCIDIR_ocn644880406
003 OCoLC
005 20231117033200.0
006 m o d
007 cr bn||||||abp
007 cr bn||||||ada
008 100628s1978 ne af ob 101 0 eng d
040 |a OCLCE  |b eng  |e pn  |c OCLCE  |d OPELS  |d OCLCO  |d UIU  |d OCLCQ  |d OCLCF  |d UIU  |d OCLCO  |d OCL  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d LEAUB  |d LUN  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d COM  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO 
019 |a 297804654 
020 |z 9780444851284  |q (v. 1) 
020 |z 0444851283  |q (v. 1) 
020 |z 9780444851291  |q (v. 2) 
020 |z 0444851291  |q (v. 2) 
020 |z 0444851305 
020 |z 9780444851307 
035 |a (OCoLC)644880406  |z (OCoLC)297804654 
042 |a dlr 
050 4 |a TA417.23  |b .D54 1978 
082 0 4 |a 620.1/127  |2 18 
084 |a 33.61  |2 bcl 
245 0 0 |a Diffraction and imaging techniques in material science /  |c editors, S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt. 
250 |a 2d, rev. ed. 
260 |a Amsterdam ;  |a New York :  |b North-Holland Pub. Co. :  |b Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier North-Holland,  |c 1978. 
300 |a 1 online resource (2 volumes (xvii, 847 pages, 1 unnumbered leaf of plates)) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
505 0 |a v. 1. Electron microscopy.--v. 2. Imaging and diffraction techniques. 
506 |3 Use copy  |f Restrictions unspecified  |2 star  |5 MiAaHDL 
533 |a Electronic reproduction.  |b [Place of publication not identified] :  |c HathiTrust Digital Library,  |d 2010.  |5 MiAaHDL 
538 |a Master and use copy. Digital master created according to Benchmark for Faithful Digital Reproductions of Monographs and Serials, Version 1. Digital Library Federation, December 2002.  |u http://purl.oclc.org/DLF/benchrepro0212  |5 MiAaHDL 
583 1 |a digitized  |c 2010  |h HathiTrust Digital Library  |l committed to preserve  |2 pda  |5 MiAaHDL 
588 0 |a Print version record. 
650 0 |a Electron microscopy  |v Congresses. 
650 0 |a Electrons  |x Diffraction  |v Congresses. 
650 0 |a Imaging systems  |v Congresses. 
650 6 |a Microscopie �electronique  |0 (CaQQLa)201-0066871  |v Congr�es.  |0 (CaQQLa)201-0378219 
650 6 |a �Electrons  |0 (CaQQLa)201-0022015  |x Diffraction  |0 (CaQQLa)201-0022015  |v Congr�es.  |0 (CaQQLa)201-0378219 
650 6 |a Imagerie (Technique)  |0 (CaQQLa)201-0013575  |v Congr�es.  |0 (CaQQLa)201-0378219 
650 7 |a Electron microscopy  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00906682 
650 7 |a Electrons  |x Diffraction  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00907646 
650 7 |a Imaging systems  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00967605 
650 1 7 |a Elektronenmicroscopie.  |2 gtt 
650 1 7 |a Afbeeldingen (algemeen)  |2 gtt 
650 7 |a MICROSC�OPIO ELETR�ONICO (CONGRESSOS)  |2 larpcal 
653 |a Materials  |a Structure  |a Determination  |a Applications of diffraction 
653 |a Materials  |a Structure  |a Determination  |a Imaging systems - Conference proceedings 
655 2 |a Congress  |0 (DNLM)D016423 
655 7 |a proceedings (reports)  |2 aat  |0 (CStmoGRI)aatgf300027316 
655 7 |a Conference papers and proceedings  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01423772 
655 7 |a Conference papers and proceedings.  |2 lcgft 
655 7 |a Actes de congr�es.  |2 rvmgf  |0 (CaQQLa)RVMGF-000001049 
700 1 |a Amelinckx, S.  |q (Severin) 
700 1 |a Gevers, R. 
700 1 |a Landuyt, J. van. 
711 2 |a International Summer Course on Material Science  |d (1969 :  |c Antwerp, Belgium).  |t Modern diffraction and imaging techniques in material science. 
776 0 8 |i Print version:  |w (DLC) 78022081  |w (OCoLC)4504580 
856 4 0 |u https://sciencedirect.uam.elogim.com/science/book/9780444851284  |z Texto completo 
856 4 0 |u https://sciencedirect.uam.elogim.com/science/book/9780444851291  |z Texto completo