Speckle metrology /

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Erf, Robert K.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: New York : Academic Press, 1978.
Colección:Quantum electronics--principles and applications.
Temas:
Speckle metrology.
Interf�erom�etrie par granularit�e.
shearography.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Engineering (General)
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Reference.
Laser
Quantenoptik
Speckle-Interferometrie
Granularit�e (optique)
Speckle-Metrologie.
Speckle-Metrology.
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