MARC

LEADER 00000cam a2200000 i 4500
001 SCIDIR_ocn561086111
003 OCoLC
005 20231117032925.0
006 m o d
007 cr bn||||||abp
007 cr bn||||||ada
008 100318s1978 nyua ob 001 0 eng d
040 |a OCLCE  |b eng  |e pn  |c OCLCE  |d OCLCQ  |d OPELS  |d E7B  |d OCLCQ  |d IDEBK  |d N$T  |d OCLCF  |d OCLCQ  |d UIU  |d YDXCP  |d OCLCQ  |d LEAUB  |d LUN  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCQ 
019 |a 301302853  |a 609174644  |a 655565115  |a 842266407 
020 |a 9780323154970  |q (electronic bk.) 
020 |a 0323154972  |q (electronic bk.) 
020 |z 9780122413605 
020 |z 0122413601 
035 |a (OCoLC)561086111  |z (OCoLC)301302853  |z (OCoLC)609174644  |z (OCoLC)655565115  |z (OCoLC)842266407 
042 |a dlr 
050 4 |a TA418.7 
072 7 |a TEC  |x 009000  |2 bisacsh 
072 7 |a TEC  |x 035000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 620/.0044  |2 18 
082 0 4 |a 621.36 
084 |a 33.18  |2 bcl 
084 |a 50.37  |2 bcl 
084 |a 51.30  |2 bcl 
084 |a 52.88  |2 bcl 
084 |a UH 5680  |2 rvk 
088 |a 78000206 
245 0 0 |a Speckle metrology /  |c edited by Robert K. Erf. 
260 |a New York :  |b Academic Press,  |c 1978. 
300 |a 1 online resource (xiv, 331 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
490 1 |a Quantum electronics--principles and applications 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
506 |3 Use copy  |f Restrictions unspecified  |2 star  |5 MiAaHDL 
533 |a Electronic reproduction.  |b [Place of publication not identified] :  |c HathiTrust Digital Library,  |d 2010.  |5 MiAaHDL 
538 |a Master and use copy. Digital master created according to Benchmark for Faithful Digital Reproductions of Monographs and Serials, Version 1. Digital Library Federation, December 2002.  |u http://purl.oclc.org/DLF/benchrepro0212  |5 MiAaHDL 
583 1 |a digitized  |c 2010  |h HathiTrust Digital Library  |l committed to preserve  |2 pda  |5 MiAaHDL 
588 0 |a Print version record. 
650 0 |a Speckle metrology. 
650 6 |a Interf�erom�etrie par granularit�e.  |0 (CaQQLa)201-0049322 
650 7 |a shearography.  |2 aat  |0 (CStmoGRI)aat300391311 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Engineering (General)  |2 bisacsh 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Reference.  |2 bisacsh 
650 7 |a Speckle metrology.  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01432101 
650 7 |a Laser  |2 gnd  |0 (DE-588)4034610-9 
650 7 |a Quantenoptik  |2 gnd  |0 (DE-588)4047990-0 
650 7 |a Speckle-Interferometrie  |2 gnd  |0 (DE-588)4182122-1 
650 7 |a Granularit�e (optique)  |2 ram 
650 7 |a Interf�erom�etrie par granularit�e.  |2 ram 
655 7 |a Speckle-Metrologie.  |2 swd 
655 7 |a Speckle-Metrology.  |2 swd 
700 1 |a Erf, Robert K. 
776 0 8 |i Print version:  |t Speckle metrology.  |d New York : Academic Press, 1978  |w (DLC) 78000206  |w (OCoLC)3948958 
830 0 |a Quantum electronics--principles and applications. 
856 4 0 |u https://sciencedirect.uam.elogim.com/science/book/9780122413605  |z Texto completo