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Fundamental principles of engineering nanometrology /
The principles of engineering metrology applied to the micro- and nanoscale: essential reading for all scientists and engineers involved in the commercialisation of nanotechnology and measurement processes requiring accuracy at the nanoscale. The establishment of common standards will be an essentia...
| Clasificación: | Libro Electrónico |
|---|---|
| Autor principal: | |
| Formato: | Electrónico eBook |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Oxford : Amsterdam :
William Andrew ; Elsevier Science,
�2010.
|
| Edición: | 1st ed. |
| Colección: | Micro & nano technologies.
|
| Temas: | |
| Acceso en línea: | Texto completo Texto completo |
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por Leach, R. K.
Publicado 2014
Texto completo (Requiere registro previo con correo institucional)
Publicado 2014
Electrónico
eBook
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