Cargando…

Architecture design for soft errors /

This book provides a comprehensive description of the architetural techniques to tackle the soft error problem. It covers the new methodologies for quantitative analysis of soft errors as well as novel, cost-effective architectural techniques to mitigate them. To provide readers with a better grasp...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Mukherjee, Shubu
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers/Elsevier, �2008.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000 a 4500
001 SCIDIR_ocn281596190
003 OCoLC
005 20231117015144.0
006 m o d
007 cr cn|||||||||
008 081212s2008 ne a ob 001 0 eng d
040 |a OPELS  |b eng  |e pn  |c OPELS  |d OPELS  |d OCLCQ  |d N$T  |d IDEBK  |d E7B  |d DKDLA  |d KNOVL  |d YDXCP  |d OCLCQ  |d KNOVL  |d OCLCF  |d KNOVL  |d OCLCQ  |d ZZAND  |d COO  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d NJR  |d OCLCQ  |d D6H  |d OCLCO  |d CEF  |d WYU  |d MERER  |d LEAUB  |d OCLCQ  |d AU@  |d OCLCO  |d VT2  |d OCLCQ  |d OCLCA  |d VLY  |d LUN  |d S2H  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCL  |d OCLCO 
015 |a GBA7A1296  |2 bnb 
016 7 |z 014469115  |2 Uk 
019 |a 232968152  |a 475596184  |a 646747379  |a 772078423  |a 916415272  |a 1064635416  |a 1103278566  |a 1129378431  |a 1162093984 
020 |a 9780123695291 
020 |a 0123695295 
020 |a 9780080558325  |q (electronic bk.) 
020 |a 0080558321  |q (electronic bk.) 
020 |a 1281272760 
020 |a 9781281272768 
020 |a 9786611272760 
020 |a 6611272763 
035 |a (OCoLC)281596190  |z (OCoLC)232968152  |z (OCoLC)475596184  |z (OCoLC)646747379  |z (OCoLC)772078423  |z (OCoLC)916415272  |z (OCoLC)1064635416  |z (OCoLC)1103278566  |z (OCoLC)1129378431  |z (OCoLC)1162093984 
050 4 |a TK7874  |b .M86143 2008eb 
072 7 |a TEC  |x 008020  |2 bisacsh 
072 7 |a TEC  |x 008010  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 621.3815  |2 22 
084 |a ST 190  |2 rvk 
100 1 |a Mukherjee, Shubu. 
245 1 0 |a Architecture design for soft errors /  |c Shubu Mukherjee. 
260 |a Amsterdam ;  |a Boston :  |b Morgan Kaufmann Publishers/Elsevier,  |c �2008. 
300 |a 1 online resource (xxi, 337 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
520 |a This book provides a comprehensive description of the architetural techniques to tackle the soft error problem. It covers the new methodologies for quantitative analysis of soft errors as well as novel, cost-effective architectural techniques to mitigate them. To provide readers with a better grasp of the broader problem deffinition and solution space, this book also delves into the physics of soft errors and reviews current circuit and software mitigation techniques. TABLE OF CONTENTS Chapter 1: Introduction Chapter 2: Device- and Circuit-Level Modeling, Measurement, and Mitigation Chapter 3: Architectural Vulnerability Analysis Chapter 4: Advanced Architectural Vulnerability Analysis Chapter 5: Error Coding Techniques Chapter 6: Fault Detection via Redundant Execution Chapter 7: Hardware Error Recovery Chapter 8: Software Detection and Recovery * Provides the methodologies necessary to quantify the effect of radiation-induced soft errors as well as state-of-the-art techniques to protect against them. 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
505 0 |a Device- and circuit-level modeling, measurement, and mitigation -- Architectural vulnerability analysis -- Advanced architectural vulnerability analysis -- Error coding techniques -- Fault detection via redundant execution -- Hardware error recovery -- Software detection and recovery. 
588 0 |a Print version record. 
546 |a English. 
650 0 |a Integrated circuits. 
650 0 |a Integrated circuits  |x Effect of radiation on. 
650 0 |a Computer architecture. 
650 0 |a System design. 
650 0 |a Computer systems  |x Reliability. 
650 0 |a Computers  |x Reliability. 
650 0 |a Integrated circuits  |x Fault tolerance. 
650 0 |a Fault-tolerant computing. 
650 6 |a Syst�emes informatiques  |0 (CaQQLa)201-0017888  |x Fiabilit�e.  |0 (CaQQLa)201-0379337 
650 6 |a Ordinateurs  |x Fiabilit�e.  |0 (CaQQLa)201-0071677 
650 6 |a Logiciels  |x �Evaluation.  |0 (CaQQLa)201-0244338 
650 6 |a Circuits int�egr�es, Effets du rayonnement sur les. 
650 6 |a Logiciels  |0 (CaQQLa)201-0032041  |x Fiabilit�e.  |0 (CaQQLa)201-0379337 
650 6 |a Circuits int�egr�es  |x Tol�erance aux fautes.  |0 (CaQQLa)201-0289193 
650 6 |a Tol�erance aux fautes (Informatique)  |0 (CaQQLa)201-0076493 
650 6 |a Circuits int�egr�es.  |0 (CaQQLa)201-0032322 
650 6 |a Ordinateurs  |x Architecture.  |0 (CaQQLa)201-0015834 
650 6 |a Conception de syst�emes.  |0 (CaQQLa)201-0086648 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Electronics  |x Circuits  |x Integrated.  |2 bisacsh 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Electronics  |x Circuits  |x General.  |2 bisacsh 
650 7 |a Integrated circuits  |x Fault tolerance  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00975563 
650 7 |a Fault-tolerant computing  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00921988 
650 7 |a Computers  |x Reliability  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00872847 
650 7 |a Computer systems  |x Reliability  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00872656 
650 7 |a Computer architecture  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00872026 
650 7 |a Integrated circuits  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00975535 
650 7 |a Integrated circuits  |x Effect of radiation on  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00975559 
650 7 |a System design  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01141401 
650 7 |a Fehler  |2 gnd  |0 (DE-588)4016606-5 
650 7 |a Halbleiterspeicher  |2 gnd  |0 (DE-588)4120419-0 
650 7 |a Integrierte Schaltung  |2 gnd  |0 (DE-588)4027242-4 
650 7 |a Softwarearchitektur  |2 gnd  |0 (DE-588)4121677-5 
650 7 |a Softwarewartung  |2 gnd  |0 (DE-588)4197459-1 
776 0 8 |i Print version:  |a Mukherjee, Shubu.  |t Architecture design for soft errors.  |d Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers/Elsevier, �2008  |z 0123695295  |z 9780123695291  |w (DLC) 2007048527  |w (OCoLC)176924795 
856 4 0 |u https://sciencedirect.uam.elogim.com/science/book/9780123695291  |z Texto completo