Cargando…

Advances in electronics and electron physics. Volume 73, Aspects of charged particle optics /

ADV ELECTRONICS ELECTRON PHYSICS V73.

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Hawkes, P. W.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Boston : Academic Press, �1989.
Colección:Advances in electronics and electron physics ; 73.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000Ia 4500
001 SCIDIR_ocn265430786
003 OCoLC
005 20231117015125.0
006 m o d
007 cr cnu---unuuu
008 081030s1989 maua ob 001 0 eng d
010 |z  49007504  
040 |a N$T  |b eng  |e pn  |c N$T  |d OCLCQ  |d UBY  |d IDEBK  |d E7B  |d OCLCQ  |d OPELS  |d AU@  |d OCLCQ  |d OCLCF  |d YDXCP  |d OCLCQ  |d DEBSZ  |d LEAUB  |d VLY  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO 
019 |a 505089897  |a 646754552  |a 759565445  |a 907041314  |a 1162080588 
020 |a 9780080577395  |q (electronic bk.) 
020 |a 0080577393  |q (electronic bk.) 
020 |a 0120146738  |q (electronic bk.) 
020 |a 9780120146734  |q (electronic bk.) 
020 |a 1281411493 
020 |a 9781281411495 
020 |a 9786611411497 
020 |a 6611411496 
035 |a (OCoLC)265430786  |z (OCoLC)505089897  |z (OCoLC)646754552  |z (OCoLC)759565445  |z (OCoLC)907041314  |z (OCoLC)1162080588 
050 4 |a QC793.5.E62  |b A38eb vol. 73 
072 7 |a TEC  |x 030000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 621.36  |2 22 
245 0 0 |a Advances in electronics and electron physics.  |n Volume 73,  |p Aspects of charged particle optics /  |c edited by Peter W. Hawkes. 
260 |a Boston :  |b Academic Press,  |c �1989. 
300 |a 1 online resource (xii, 324 pages) :  |b illustrations. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
490 1 |a Advances in electronics and electron physics,  |x 0065-2539 ;  |v 73 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
588 0 |a Print version record. 
505 0 |a Ion optics -- Proton microscopes and their applications -- An early history of the electron microscopes in the United States -- Electron beam testing. 
520 |a ADV ELECTRONICS ELECTRON PHYSICS V73. 
546 |a English. 
650 0 |a Electron optics. 
650 0 |a Proton beams. 
650 0 |a Electron microscopes. 
650 6 |a Optique �electronique.  |0 (CaQQLa)201-0006721 
650 6 |a Faisceaux de protons.  |0 (CaQQLa)000259574 
650 6 |a Microscopes �electroniques.  |0 (CaQQLa)201-0014917 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Optics.  |2 bisacsh 
650 7 |a Electron microscopes  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00906679 
650 7 |a Electron optics  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00906693 
650 7 |a Proton beams  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01080066 
700 1 |a Hawkes, P. W. 
776 0 8 |i Print version:  |t Advances in electronics and electron physics. Volume 73, Aspects of charged particle optics.  |d Boston : Academic Press, �1989  |z 9780120146734 
830 0 |a Advances in electronics and electron physics ;  |v 73. 
856 4 0 |u https://sciencedirect.uam.elogim.com/science/book/9780120146734  |z Texto completo