MARC

LEADER 00000cam a2200000Ia 4500
001 SCIDIR_ocn265419412
003 OCoLC
005 20231117015124.0
006 m o d
007 cr cnu---unuuu
008 081030s1990 maua ob 001 0 eng d
040 |a N$T  |b eng  |e pn  |c N$T  |d OCLCQ  |d UBY  |d IDEBK  |d E7B  |d OCLCQ  |d OPELS  |d OCLCQ  |d OCLCF  |d YDXCP  |d OCLCQ  |d DEBSZ  |d OTZ  |d LEAUB  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO 
019 |a 505142596  |a 646754887 
020 |a 9780080577456  |q (electronic bk.) 
020 |a 0080577458  |q (electronic bk.) 
020 |a 0120146797  |q (electronic bk.) 
020 |a 9780120146796  |q (electronic bk.) 
035 |a (OCoLC)265419412  |z (OCoLC)505142596  |z (OCoLC)646754887 
050 4 |a TK7800  |b .A37eb vol. 79 
072 7 |a TEC  |x 007000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 621.38  |2 22 
245 0 0 |a Advances in electronics and electron physics.  |n Volume 79 /  |c edited by Peter W. Hawkes. 
260 |a Boston :  |b Academic Press,  |c �1990. 
300 |a 1 online resource (xi, 383 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references. 
505 0 |a Algebraic systems, trellis codes, and rotational invariance / Howard J. Chizeck and Mitchell D. Trott -- Topography of surfaces modified by fast ion bombardment / D. Ghose and S.B. Karmohapatro -- Scanning tunneling microscopy / L.L. Soethout, H. van Kemper, G.F.A. van de Walle -- Phosphor materials for cathode-ray tubes / Takashi Hase [and others]. 
588 0 |a Print version record. 
650 0 |a Scanning electron microscopes. 
650 0 |a Electrons. 
650 0 |a Silicon. 
650 0 |a Ion bombardment. 
650 0 |a Microscopy. 
650 0 |a Cathode ray tubes. 
650 2 |a Electrons  |0 (DNLM)D004583 
650 2 |a Silicon  |0 (DNLM)D012825 
650 2 |a Microscopy  |0 (DNLM)D008853 
650 6 |a Microscopes �electroniques �a balayage.  |0 (CaQQLa)201-0014916 
650 6 |a �Electrons.  |0 (CaQQLa)201-0004714 
650 6 |a Silicium.  |0 (CaQQLa)201-0052755 
650 6 |a Bombardement ionique.  |0 (CaQQLa)201-0004234 
650 6 |a Microscopie.  |0 (CaQQLa)201-0055735 
650 6 |a Tubes �a rayons cathodiques.  |0 (CaQQLa)201-0047159 
650 7 |a silicon.  |2 aat  |0 (CStmoGRI)aat300011769 
650 7 |a microscopy.  |2 aat  |0 (CStmoGRI)aat300054100 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Electrical.  |2 bisacsh 
650 7 |a Cathode ray tubes  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00849102 
650 7 |a Electrons  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00907642 
650 7 |a Ion bombardment  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00978567 
650 7 |a Microscopy  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01020062 
650 7 |a Scanning electron microscopes  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01106478 
650 7 |a Silicon  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01118631 
700 1 |a Hawkes, P. W. 
776 0 8 |i Print version:  |t Advances in electronics and electron physics. Volume 79.  |d Boston : Academic Press, �1990  |z 0120146797  |z 9780120146796  |w (OCoLC)23155529 
830 0 |a Advances in electronics and electron physics ;  |v v. 79. 
856 4 0 |u https://sciencedirect.uam.elogim.com/science/book/9780120146796  |z Texto completo