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System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /

Modern electronics testing has a legacy of more than 40 years. The introduction of new technologies, especially nanometer technologies with 90nm or smaller geometry, has allowed the semiconductor industry to keep pace with the increased performance-capacity demands from consumers. As a result, semic...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Wang, Laung-Terng, Stroud, Charles E., Touba, Nur A.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers, �2008.
Colección:Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo
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Publicado 2008
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