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Fundamental principles of engineering nanometrology /

Working at the nano-scale demands an understanding of the high-precision measurement techniques that make nanotechnology and advanced manufacturing possible. This new edition of Fundamental Principles of Engineering Nanometrology provides a road map and toolkit for metrologists engaging with the rig...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Leach, R. K. (Autor)
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Oxford, OX : Elsevier, William Andrew, 2014.
Edición:Second edition.
Colección:Micro & nano technologies.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo (Requiere registro previo con correo institucional)

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