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Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics /

Today, the availability of bright and highly coherent electron sources and sensitive detectors has radically changed the type and quality of the information which can be obtained by transmission electron microscopy (TEM). TEMs are now present in large numbers not only in academia, but also in indust...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Claverie, A. (Alain)
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: London : Hoboken : ISTE, Ltd. ; Wiley, ©2013.
Colección:ISTE.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo (Requiere registro previo con correo institucional)

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