Model-based testing for embedded systems /

Model-Based Testing for Embedded Systems.

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Zander, Justyna, Schieferdecker, Ina, Mosterman, Pieter J.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Boca Raton, FL : CRC Press, Ã2012.
Colección:Computational analysis, synthesis, and design of dynamic models series.
Temas:
Embedded computer systems > Testing.
COMPUTERS > Hardware > Mainframes & Minicomputers.
Acceso en línea:Texto completo (Requiere registro previo con correo institucional)

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