Cargando…

Model-based testing for embedded systems /

Model-Based Testing for Embedded Systems.

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Zander, Justyna, Schieferdecker, Ina, Mosterman, Pieter J.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Boca Raton, FL : CRC Press, Ã2012.
Colección:Computational analysis, synthesis, and design of dynamic models series.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo (Requiere registro previo con correo institucional)

MARC

LEADER 00000cam a2200000Ma 4500
001 OR_ocn769101840
003 OCoLC
005 20231017213018.0
006 m o d
007 cr |n|||||||||
008 111219s2012 flua ob 001 0 eng d
010 |a  2011010401 
040 |a YDXCP  |b eng  |e pn  |c YDXCP  |d UIU  |d E7B  |d N$T  |d EBLCP  |d OCLCQ  |d OCLCF  |d OCLCQ  |d OTZ  |d CAUOI  |d CRCPR  |d OCLCQ  |d DEBSZ  |d IDEBK  |d COO  |d CDX  |d UMI  |d DEBBG  |d S3O  |d OCLCQ  |d PIFBY  |d OCLCQ  |d ERL  |d OCLCQ  |d CEF  |d NLE  |d UKMGB  |d WYU  |d UAB  |d LEAUB  |d AU@  |d OCLCQ  |d VT2  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d SFB  |d OCLCQ 
015 |a GBB7A4817  |2 bnb 
016 7 |a 018380239  |2 Uk 
016 7 |a 015826252  |2 Uk 
019 |a 785337402  |a 794216444  |a 817067675  |a 824114166  |a 879333001  |a 992050598  |a 994819405  |a 1065946110  |a 1129376767 
020 |a 1439818479  |q (electronic bk.) 
020 |a 9781439818473  |q (electronic bk.) 
020 |a 1280121718 
020 |a 9781280121715 
020 |z 9781439818459  |q (hardcover ;  |q alk. paper) 
020 |z 1439818452  |q (hardcover ;  |q alk. paper) 
029 1 |a AU@  |b 000049250842 
029 1 |a DEBBG  |b BV042032407 
029 1 |a DEBSZ  |b 414178742 
029 1 |a DEBSZ  |b 431076790 
029 1 |a GBVCP  |b 882729519 
029 1 |a NZ1  |b 14243737 
029 1 |a NZ1  |b 14260580 
029 1 |a NZ1  |b 14938876 
029 1 |a UKMGB  |b 018380239 
029 1 |a AU@  |b 000065168818 
035 |a (OCoLC)769101840  |z (OCoLC)785337402  |z (OCoLC)794216444  |z (OCoLC)817067675  |z (OCoLC)824114166  |z (OCoLC)879333001  |z (OCoLC)992050598  |z (OCoLC)994819405  |z (OCoLC)1065946110  |z (OCoLC)1129376767 
037 |a CL0500000425  |b Safari Books Online 
050 4 |a TK7895.E42  |b M636 2012 
072 7 |a COM  |x 038000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 004.1  |2 22 
084 |a ST 153  |2 rvk 
084 |a ZN 4030  |2 rvk 
084 |a ZN 5680  |2 rvk 
049 |a UAMI 
245 0 0 |a Model-based testing for embedded systems /  |c edited by Justyna Zander, Ina Schieferdecker, and Pieter J. Mosterman. 
260 |a Boca Raton, FL :  |b CRC Press,  |c Ã2012. 
300 |a 1 online resource (xxvii, 660 pages) :  |b illustrations. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
490 1 |a Computational analysis, synthesis, and design of dynamic systems 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
505 0 |a Part 1. Introduction -- pt. 2. Automatic test generation -- pt. 3. Integration and multilevel testing -- pt. 4. Specific approaches -- pt. 5. Testing in industry -- pt. 6. Testing at the lower levels of development. 
520 |a Model-Based Testing for Embedded Systems. 
590 |a O'Reilly  |b O'Reilly Online Learning: Academic/Public Library Edition 
650 0 |a Embedded computer systems  |x Testing. 
650 7 |a COMPUTERS  |x Hardware  |x Mainframes & Minicomputers.  |2 bisacsh 
650 7 |a Embedded computer systems  |x Testing.  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00908304 
700 1 |a Zander, Justyna. 
700 1 |a Schieferdecker, Ina. 
700 1 |a Mosterman, Pieter J. 
776 0 8 |i Print version:  |z 9781439818459  |z 1439818452  |w (DLC) 2011010401 
830 0 |a Computational analysis, synthesis, and design of dynamic models series. 
856 4 0 |u https://learning.oreilly.com/library/view/~/9781439818473/?ar  |z Texto completo (Requiere registro previo con correo institucional) 
938 |a Coutts Information Services  |b COUT  |n 23931082 
938 |a CRC Press  |b CRCP  |n CRC0KE10870PDF 
938 |a ProQuest Ebook Central  |b EBLB  |n EBL826977 
938 |a ebrary  |b EBRY  |n ebr10519709 
938 |a EBSCOhost  |b EBSC  |n 429877 
938 |a ProQuest MyiLibrary Digital eBook Collection  |b IDEB  |n 352557 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 4995404 
994 |a 92  |b IZTAP