Cargando…

Materials science : properties and technologies. 3rd International Conference on Material Science and Engineering Technology (3rd ICMSET 2019) /

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor Corporativo: International Conference on Material Science and Engineering Technology
Otros Autores: Hu, Jong Wan (Editor )
Formato: Electrónico Congresos, conferencias eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Pfaffikon, Switzerland : Trans Tech Publications, 2019.
Colección:Diffusion and defect data. Defect and diffusion forum ; v. 394.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000 i 4500
001 KNOVEL_on1111629299
003 OCoLC
005 20231027140348.0
006 m o d
007 cr cnu---unuuu
008 190806s2019 sz o 100 0 eng d
040 |a N$T  |b eng  |e rda  |e pn  |c N$T  |d N$T  |d OCLCF  |d CUS  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO 
020 |a 9783035734850  |q (electronic bk.) 
020 |a 3035734852  |q (electronic bk.) 
020 |z 9783035714852 
035 |a (OCoLC)1111629299 
050 4 |a TA401.3 
082 0 4 |a 620.11  |2 23 
049 |a UAMI 
111 2 |a International Conference on Material Science and Engineering Technology  |n (3rd :  |d 2019) 
245 1 0 |a Materials science :  |b properties and technologies. 3rd International Conference on Material Science and Engineering Technology (3rd ICMSET 2019) /  |c edited by Jong Wan Hu. 
264 1 |a Pfaffikon, Switzerland :  |b Trans Tech Publications,  |c 2019. 
300 |a 1 online resource 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
490 1 |a Defect and Diffusion Forum ;  |v v. 394 
588 0 |a Online resource; title from PDF title page (EBSCO, viewed August 7, 2019) 
590 |a Knovel  |b ACADEMIC - General Engineering & Project Administration 
650 0 |a Materials science  |v Congresses. 
650 0 |a Engineering  |x Technology  |v Congresses. 
650 6 |a Science des matériaux  |v Congrès. 
650 6 |a Ingénierie  |x Technologie  |v Congrès. 
650 7 |a Materials science  |2 fast 
655 7 |a Conference papers and proceedings  |2 fast 
700 1 |a Hu, Jong Wan,  |e editor. 
830 0 |a Diffusion and defect data.  |n Pt. A,  |p Defect and diffusion forum ;  |v v. 394. 
856 4 0 |u https://appknovel.uam.elogim.com/kn/resources/kpMSPTICM1/toc  |z Texto completo 
938 |a EBSCOhost  |b EBSC  |n 2223729 
994 |a 92  |b IZTAP