Cargando…

Properties of porous silicon /

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor Corporativo: INSPEC (Information service)
Otros Autores: Canham, Leigh T.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: London : IEE : INSPEC, ©1987.
Colección:EMIS datareviews series ; no. 18.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000 a 4500
001 KNOVEL_ocm62204557
003 OCoLC
005 20231027140348.0
006 m o d
007 cr cn|||||||||
008 051102s1987 enka ob 001 0 eng d
040 |a KNOVL  |b eng  |e pn  |c KNOVL  |d KNOVL  |d OCLCQ  |d KNOVL  |d ZCU  |d OCLCE  |d OCLCF  |d KNOVL  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d KNOVL  |d OCLCQ  |d UAB  |d OCLCQ  |d CEF  |d RRP  |d AU@  |d ERF  |d OCLCQ  |d MM9  |d S2H  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO 
019 |a 605540987  |a 636318716  |a 636318721  |a 977708350  |a 1044411815  |a 1056450110  |a 1058059931  |a 1060906960  |a 1073060282  |a 1116033724  |a 1224452575 
020 |a 1591248582  |q (electronic bk.) 
020 |a 9781591248583  |q (electronic bk.) 
020 |z 0852969325 
020 |z 9780852969328 
029 1 |a AU@  |b 000040124841 
029 1 |a GBVCP  |b 830182888 
029 1 |a NZ1  |b 10564287 
029 1 |a NZ1  |b 14231577 
029 1 |a NZ1  |b 15593913 
035 |a (OCoLC)62204557  |z (OCoLC)605540987  |z (OCoLC)636318716  |z (OCoLC)636318721  |z (OCoLC)977708350  |z (OCoLC)1044411815  |z (OCoLC)1056450110  |z (OCoLC)1058059931  |z (OCoLC)1060906960  |z (OCoLC)1073060282  |z (OCoLC)1116033724  |z (OCoLC)1224452575 
037 |b Knovel Corporation  |n http://www.knovel.com 
042 |a dlr 
050 4 |a TK7871.15.S55  |b P77 1987eb 
082 0 4 |a 546/.683  |2 22 
084 |a JL 18  |2 blsrissc 
049 |a UAMI 
245 0 0 |a Properties of porous silicon /  |c edited by Leigh Canham. 
260 |a London :  |b IEE :  |b INSPEC,  |c ©1987. 
300 |a 1 online resource (xviii, 405 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
490 1 |a EMIS datareviews series ;  |v no. 18 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
506 |3 Use copy  |f Restrictions unspecified  |2 star  |5 MiAaHDL 
533 |a Electronic reproduction.  |b [Place of publication not identified] :  |c HathiTrust Digital Library,  |d 2010.  |5 MiAaHDL 
538 |a Master and use copy. Digital master created according to Benchmark for Faithful Digital Reproductions of Monographs and Serials, Version 1. Digital Library Federation, December 2002.  |u http://purl.oclc.org/DLF/benchrepro0212  |5 MiAaHDL 
583 1 |a digitized  |c 2010  |h HathiTrust Digital Library  |l committed to preserve  |2 pda  |5 MiAaHDL 
588 0 |a Print version record. 
590 |a Knovel  |b ACADEMIC - Ceramics & Ceramic Engineering 
590 |a Knovel  |b ACADEMIC - Electronics & Semiconductors 
650 0 |a Porous silicon. 
650 0 |a Semiconductors. 
650 6 |a Silicium poreux. 
650 6 |a Semi-conducteurs. 
650 7 |a semiconductor.  |2 aat 
650 7 |a Porous silicon  |2 fast 
650 7 |a Semiconductors  |2 fast 
650 7 |a Semiconducteurs.  |2 ram 
650 7 |a Optoélectronique.  |2 ram 
650 7 |a Silicium.  |2 ram 
650 7 |a Matériaux poreux.  |2 ram 
700 1 |a Canham, Leigh T. 
710 2 |a INSPEC (Information service) 
776 0 8 |i Print version:  |t Properties of porous silicon.  |d London : IEE : INSPEC, ©1987  |z 0852969325  |w (OCoLC)38206806 
830 0 |a EMIS datareviews series ;  |v no. 18. 
856 4 0 |u https://appknovel.uam.elogim.com/kn/resources/kpPPS00006/toc  |z Texto completo 
994 |a 92  |b IZTAP