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Measuring deeper learning through cognitively demanding test items : results from the analysis of six national and international exams /

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autores principales: Yuan, Kun (Autor), Le, Vi-Nhuan (Autor)
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Santa Monica, CA : RAND Corporation, [2014]
Colección:Research report (Rand Corporation)
Temas:
Acceso en línea:Texto completo
Descripción
Notas:"Sponsored by the William and Flora Hewlitt Foundation."
Descripción Física:1 online resource (xxi, 97 pages)
Bibliografía:Includes bibliographical references.
ISBN:9780833085528
0833085522