ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /

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Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor Corporativo: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif.
Formato: Electrónico Congresos, conferencias eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Materials Park, Ohio : ASM International, 2013.
Temas:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Appareils électroniques > Essais > Congrès.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Mechanical.
Electronic apparatus and appliances > Testing
Electronics > Materials > Testing
Conference papers and proceedings
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