ISTFA '98 : proceedings of the 24th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 15-19 November 1998, Hyatt Regency DFW, Dallas, Texas /

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autores Corporativos: International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., ASM International
Formato: Electrónico Congresos, conferencias eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Materials Park, OH : ASM International, ©1998.
Temas:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Appareils électroniques > Essais > Congrès.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Electronics > Circuits > General.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Electronics > Circuits > Integrated.
Electronic apparatus and appliances > Testing
Electronics > Materials > Testing
Conference papers and proceedings
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