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Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis /

1. Preface. 2. An Introduction to Monte Carlo Methods. 3. Constructing a Simulation. 4. The Single Scattering Model. 5. The Plural Scattering Model. 6. Practical Applications of Monte Carlo Models. 7. Backscattered Electrons. 8. Charge Collection and Cathodoluminescence. 9. Secondary Electrons and I...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Joy, David C., 1943-
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: New York : Oxford University Press, 1995.
Colección:Oxford series in optical and imaging sciences ; 9.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

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