Microelectronics failure analysis : desk reference /

Mostrar otras versiones (4)
Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autores Corporativos: Electronic Device Failure Analysis Society. Desk Reference Committee, ASM International
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Materials Park, Ohio : ASM International, ©2004.
Temas:
Microelectronics > Materials > Testing > Handbooks, manuals, etc.
Microelectronics > Defects > Testing > Handbooks, manuals, etc.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Handbooks, manuals, etc.
Electronics > Materials > Testing > Handbooks, manuals, etc.
Electronics > Materials > Defects > Handbooks, manuals, etc.
Electronics > Materials > Handbooks, manuals, etc.
Appareils électroniques > Essais > Guides, manuels, etc.
Électronique > Matériaux > Guides, manuels, etc.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Electronics > Circuits > General.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Electronics > Circuits > Integrated.
Electronic apparatus and appliances > Testing
Electronics > Materials > Defects
Electronics > Materials > Testing
Microelectronics > Materials > Testing
handbooks.
Handbooks and manuals
Handbooks and manuals.
Guides et manuels.
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000 a 4500
001 EBSCO_ocn297826771
003 OCoLC
005 20231017213018.0
006 m o d
007 cr cnu---unuuu
008 090109s2004 ohua obf 001 0 eng d
040 |a OCLCE  |b eng  |e pn  |c OCLCE  |d OCLCQ  |d E7B  |d OCLCQ  |d COO  |d B24X7  |d N$T  |d OCLCQ  |d YDXCP  |d EBLCP  |d OCLCQ  |d AGLDB  |d OCLCF  |d JBG  |d OCLCQ  |d VTS  |d STF  |d M8D  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO 
019 |a 762079349  |a 765135785 
020 |a 9781615032662  |q (electronic bk.) 
020 |a 1615032665  |q (electronic bk.) 
020 |z 9780871708045 
020 |z 0871708043 
029 1 |a AU@  |b 000062642933 
029 1 |a DEBBG  |b BV043114377 
029 1 |a DEBSZ  |b 421522674 
035 |a (OCoLC)297826771  |z (OCoLC)762079349  |z (OCoLC)765135785 
050 4 |a TK7871  |b .M52 2004 
072 7 |a TEC  |x 008010  |2 bisacsh 
072 7 |a TEC  |x 008020  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 621.381548  |2 22 
049 |a UAMI 
245 0 0 |a Microelectronics failure analysis :  |b desk reference /  |c edited by the Electronic Device Failure Analysis Society, Desk Reference Committee. 
260 |a Materials Park, Ohio :  |b ASM International,  |c ©2004. 
300 |a 1 online resource (xiv, 800 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references and indexes. 
505 0 0 |g Introduction --  |t Failure analysis process flow --  |t Failure verification --  |t Failure mode: failure classifications --  |t Special devices --  |t Non-destructive analysis techniques --  |t Depackaging --  |t Photon emission (electroluminescence) localization techniques --  |t Microthermography --  |t Laser and particle beam-based localization techniques --  |t Deprocessing --  |t General imaging techniques --  |t Local deprocessing and imaging --  |t Materials analysis techniques --  |t Important topics for semiconductor devices --  |t FA techniques/tools roadmaps --  |t FA operation and management --  |g Appendix. 
588 0 |a Print version record. 
590 |a eBooks on EBSCOhost  |b EBSCO eBook Subscription Academic Collection - Worldwide 
650 0 |a Microelectronics  |x Materials  |x Testing  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 0 |a Microelectronics  |x Defects  |x Testing  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 0 |a Electronic apparatus and appliances  |x Testing  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 0 |a Electronics  |x Materials  |x Testing  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 0 |a Electronics  |x Materials  |x Defects  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 0 |a Electronics  |x Materials  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 6 |a Appareils électroniques  |x Essais  |v Guides, manuels, etc. 
650 6 |a Électronique  |x Matériaux  |v Guides, manuels, etc. 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Electronics  |x Circuits  |x General.  |2 bisacsh 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Electronics  |x Circuits  |x Integrated.  |2 bisacsh 
650 7 |a Electronic apparatus and appliances  |x Testing  |2 fast 
650 7 |a Electronics  |x Materials  |x Defects  |2 fast 
650 7 |a Electronics  |x Materials  |x Testing  |2 fast 
650 7 |a Microelectronics  |x Materials  |x Testing  |2 fast 
655 7 |a handbooks.  |2 aat 
655 7 |a Handbooks and manuals  |2 fast 
655 7 |a Handbooks and manuals.  |2 lcgft 
655 7 |a Guides et manuels.  |2 rvmgf 
710 2 |a Electronic Device Failure Analysis Society.  |b Desk Reference Committee. 
710 2 |a ASM International. 
776 0 8 |i Print version:  |t Microelectronics failure analysis.  |d Materials Park, Ohio : ASM International, ©2004  |w (OCoLC)57017140 
856 4 0 |u https://ebsco.uam.elogim.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=395872  |z Texto completo 
938 |a Books 24x7  |b B247  |n bke00042664 
938 |a ebrary  |b EBRY  |n ebr10320375 
938 |a EBSCOhost  |b EBSC  |n 395872 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 3623614 
994 |a 92  |b IZTAP 

Ejemplares similares