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Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
| Clasificación: | Libro Electrónico |
|---|---|
| Autor principal: | |
| Formato: | Electrónico eBook |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
New York :
Oxford University Press,
1994.
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| Edición: | Rev. ed. |
| Colección: | Oxford series in optical and imaging sciences ;
5. |
| Temas: | |
| Acceso en línea: | Texto completo |
| Descripción Física: | 1 online resource (xiii, 263 pages) : illustrations |
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| Bibliografía: | Includes bibliographical references (pages 233-259) and index. |
| ISBN: | 9780198022817 0198022816 9780195092042 019509204X |