Testing of digital systems /

The most comprehensive and wide ranging book of its kind, Testing of Digital Systems covers everything you need to know about how to test semiconductor devices and systems. Written for students and engineers, it is both an excellent senior/graduate level textbook and a valuable reference.

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Jha, Niraj K.
Otros Autores: Gupta, S. (Sandeep), 1962-
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Cambridge : Cambridge University Press, 2003.
Temas:
Digital integrated circuits > Testing.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Electronics > Circuits > Integrated.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Electronics > Circuits > General.
Digital integrated circuits > Testing
Test
Digitale integrierte Schaltung
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000 a 4500
001 EBSCO_ocm57419693
003 OCoLC
005 20231017213018.0
006 m o d
007 cr cnu|||unuuu
008 050113s2003 enka ob 001 0 eng d
040 |a N$T  |b eng  |e pn  |c N$T  |d OCLCQ  |d YDXCP  |d OCLCG  |d OCLCQ  |d IDEBK  |d NRU  |d OCLCQ  |d E7B  |d EBLCP  |d OCLCQ  |d CAMBR  |d OCLCF  |d OCLCQ  |d NLGGC  |d OCLCQ  |d DEBSZ  |d OTZ  |d OCLCQ  |d HEBIS  |d JBG  |d OCLCO  |d VTS  |d AGLDB  |d G3B  |d STF  |d OCLCQ  |d K6U  |d LUN  |d VLY  |d UKAHL  |d OCLCQ  |d QGK  |d MHW  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d INARC  |d OCLCO 
015 |a GBA2-Z5021 
019 |a 171136607  |a 667019472  |a 816348661  |a 817933723  |a 819628669  |a 1162289854  |a 1167312398  |a 1241837514  |a 1392017323 
020 |a 0511077734  |q (electronic bk.) 
020 |a 9780511077739  |q (electronic bk.) 
020 |a 0511076169 
020 |a 9780511076169 
020 |a 9780511816321  |q (electronic bk.) 
020 |a 0511816324  |q (electronic bk.) 
020 |a 1282387138 
020 |a 9781282387133 
020 |a 1107128935 
020 |a 9781107128934 
020 |a 0511643314 
020 |a 9780511643316 
020 |a 9786612387135 
020 |a 6612387130 
020 |a 0511203810 
020 |a 9780511203817 
020 |a 0511556985 
020 |a 9780511556982 
020 |z 0521773563 
020 |z 9780521773560 
029 1 |a AU@  |b 000051416669 
029 1 |a DEBBG  |b BV043069435 
029 1 |a DEBSZ  |b 422342149 
029 1 |a DEBSZ  |b 430282435 
029 1 |a DEBSZ  |b 445981148 
029 1 |a DKDLA  |b 820120-katalog:9910051067805765 
035 |a (OCoLC)57419693  |z (OCoLC)171136607  |z (OCoLC)667019472  |z (OCoLC)816348661  |z (OCoLC)817933723  |z (OCoLC)819628669  |z (OCoLC)1162289854  |z (OCoLC)1167312398  |z (OCoLC)1241837514  |z (OCoLC)1392017323 
050 4 |a TK7874.65  |b .J43 2003eb 
072 7 |a TEC  |x 008020  |2 bisacsh 
072 7 |a TEC  |x 008010  |2 bisacsh 
072 7 |a TJF  |2 bicssc 
082 0 4 |a 621.381548  |2 22 
084 |a 53.57  |2 bcl 
084 |a 54.52  |2 bcl 
049 |a UAMI 
100 1 |a Jha, Niraj K. 
245 1 0 |a Testing of digital systems /  |c N.K. Jha and S. Gupta. 
260 |a Cambridge :  |b Cambridge University Press,  |c 2003. 
300 |a 1 online resource (xvi, 1000 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
505 0 0 |g 1.  |t Introduction /  |r Ad van de Goor --  |g 2.  |t Fault models --  |g 3.  |t Combinational logic and fault simulation --  |g 4.  |t Test generation for combinational circuits --  |g 5.  |t Sequential ATPG --  |g 6.  |t I[subscript DDQ] testing --  |g 7.  |t Functional testing --  |g 8.  |t Delay fault testing --  |g 9.  |t CMOS testing --  |g 10.  |t Fault diagnosis --  |g 11.  |t Design for testability --  |g 12.  |t Built-in-self-test --  |g 13.  |t Synthesis for testability --  |g 14.  |t Memory testing /  |r Ad van de Goor --  |g 15.  |t High-level test synthesis --  |g 16.  |t System-on-a-chip test synthesis. 
520 |a The most comprehensive and wide ranging book of its kind, Testing of Digital Systems covers everything you need to know about how to test semiconductor devices and systems. Written for students and engineers, it is both an excellent senior/graduate level textbook and a valuable reference. 
588 0 |a Print version record. 
546 |a English. 
590 |a eBooks on EBSCOhost  |b EBSCO eBook Subscription Academic Collection - Worldwide 
650 0 |a Digital integrated circuits  |x Testing. 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Electronics  |x Circuits  |x Integrated.  |2 bisacsh 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Electronics  |x Circuits  |x General.  |2 bisacsh 
650 7 |a Digital integrated circuits  |x Testing  |2 fast 
650 7 |a Test  |2 gnd 
650 7 |a Digitale integrierte Schaltung  |2 gnd 
700 1 |a Gupta, S.  |q (Sandeep),  |d 1962- 
776 0 8 |i Print version:  |a Jha, Niraj K.  |t Testing of digital systems.  |d Cambridge : Cambridge University Press, 2003  |z 0521773563  |w (OCoLC)48784338 
856 4 0 |u https://ebsco.uam.elogim.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=125045  |z Texto completo 
938 |a Askews and Holts Library Services  |b ASKH  |n AH22948320 
938 |a Askews and Holts Library Services  |b ASKH  |n AH37560166 
938 |a ProQuest Ebook Central  |b EBLB  |n EBL221132 
938 |a ebrary  |b EBRY  |n ebr10513045 
938 |a EBSCOhost  |b EBSC  |n 125045 
938 |a ProQuest MyiLibrary Digital eBook Collection  |b IDEB  |n 238713 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 2618335 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 7272935 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 9247533 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 2301529 
938 |a Internet Archive  |b INAR  |n testingofdigital0000jhan 
994 |a 92  |b IZTAP 

Ejemplares similares