Electrical overstress (EOS) : devices, circuits, and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Voldman, Steven H.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Chichester, West Sussex, United Kingdom : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Colección:ESD series.
Temas:
Semiconductors > Failures.
Semiconductors > Protection.
Transients (Electricity)
Overvoltage.
Semi-conducteurs > Défaillances.
Semi-conducteurs > Protection.
Régime transitoire (Électricité)
Surtension.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Electronics > Circuits > General.
Overvoltage
Semiconductors > Failures
Semiconductors > Protection
Régime transitoire (électricité) > Accidents.
Acceso en línea:Texto completo

Internet

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