Cargando…

Structure analysis of advanced nanomaterials : nanoworld by high-resolution electron microscopy /

<!Doctype html public ""-//w3c//dtd html 4.0 transitional//en""> <html><head> <meta http-equiv=content-type content=""text/html; charset=iso-8859-1""> <meta content=""mshtml 6.00.6000.17110"" name=generator><...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Oku, Takeo, 1965- (Autor)
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Berlin ; Boston : De Gruyter, [2014]
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000 i 4500
001 EBOOKCENTRAL_ocn896786490
003 OCoLC
005 20240329122006.0
006 m o d
007 cr |n|||||||||
008 141121s2014 gw a ob 001 0 eng d
040 |a YDXCP  |b eng  |e rda  |e pn  |c YDXCP  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCF  |d IDEBK  |d EBLCP  |d E7B  |d DEBSZ  |d KNOVL  |d N$T  |d VLB  |d COO  |d YDX  |d LOA  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d AGLDB  |d AZK  |d LVT  |d ZCU  |d MERUC  |d OCLCQ  |d MOR  |d CCO  |d PIFAG  |d OCLCA  |d DEGRU  |d U3W  |d STF  |d OCLCQ  |d VTS  |d ICG  |d INT  |d VT2  |d OCLCQ  |d AU@  |d OCLCQ  |d WYU  |d OCLCQ  |d DKC  |d OCLCQ  |d M8D  |d OCLCQ  |d LEAUB  |d UKAHL  |d HS0  |d ADU  |d UKBTH  |d OCLCQ  |d K6U  |d UKCRE  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCL 
019 |a 898769802  |a 958355175  |a 960203760  |a 961305318  |a 961538058  |a 988539644  |a 1013944366  |a 1037750454  |a 1037980219  |a 1041991856  |a 1046607630  |a 1047006569  |a 1049632202  |a 1053607109  |a 1054867552  |a 1058437476  |a 1058535004  |a 1086534912  |a 1097102081  |a 1112866620  |a 1112943273  |a 1148119523  |a 1153556332  |a 1154252213 
020 |a 3110305011  |q (electronic bk.) 
020 |a 9783110305012  |q (electronic bk.) 
020 |a 9781523100545  |q (electronic bk.) 
020 |a 1523100540  |q (electronic bk.) 
020 |a 9783110388046  |q (electronic bk.) 
020 |a 3110388049  |q (electronic bk.) 
020 |z 3110304724  |q (hardcover) 
020 |z 9783110304725  |q (hardcover) 
024 7 |a 10.1515/9783110305012  |2 doi 
029 1 |a AU@  |b 000062598508 
029 1 |a DEBBG  |b BV043785912 
029 1 |a DEBBG  |b BV044067690 
029 1 |a DEBSZ  |b 425887952 
029 1 |a DEBSZ  |b 472855158 
035 |a (OCoLC)896786490  |z (OCoLC)898769802  |z (OCoLC)958355175  |z (OCoLC)960203760  |z (OCoLC)961305318  |z (OCoLC)961538058  |z (OCoLC)988539644  |z (OCoLC)1013944366  |z (OCoLC)1037750454  |z (OCoLC)1037980219  |z (OCoLC)1041991856  |z (OCoLC)1046607630  |z (OCoLC)1047006569  |z (OCoLC)1049632202  |z (OCoLC)1053607109  |z (OCoLC)1054867552  |z (OCoLC)1058437476  |z (OCoLC)1058535004  |z (OCoLC)1086534912  |z (OCoLC)1097102081  |z (OCoLC)1112866620  |z (OCoLC)1112943273  |z (OCoLC)1148119523  |z (OCoLC)1153556332  |z (OCoLC)1154252213 
037 |n Title subscribed to via ProQuest Academic Complete 
050 4 |a QH212.T7  |b O38 2014 
072 7 |a SCI  |x 000000  |2 bisacsh 
072 7 |a TA  |2 lcco 
082 0 4 |a 502.8/25  |2 23 
049 |a UAMI 
100 1 |a Oku, Takeo,  |d 1965-  |e author.  |1 https://id.oclc.org/worldcat/entity/E39PCjG9mwMgPwXr4qcKvfd9cP 
245 1 0 |a Structure analysis of advanced nanomaterials :  |b nanoworld by high-resolution electron microscopy /  |c Takeo Oku. 
264 1 |a Berlin ;  |a Boston :  |b De Gruyter,  |c [2014] 
300 |a 1 online resource (viii, 168 pages .) 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
347 |a text file 
347 |b PDF 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
588 0 |a Print version record. 
505 0 |a Preface; Contents; Table for physical constants; 1 Introduction; 1.1 Characteristic of electron microscopy; 1.2 What information can be obtained by electron microscopy?; 1.3 Various types of electron microscopy; 2 Structure and principle of electron microscopes; 2.1 Structure of transmission electron microscope; 2.2 Observation mechanism of atoms by electrons; 2.3 Information from electron diffraction pattern; 2.4 High-resolution electron microscopy; 2.5 Scanning electron microscope; 2.6 Electron energy-loss spectroscopy; 2.7 Energy dispersive X-ray spectroscopy. 
505 8 |a 2.8 High-angle annular dark-field scanning TEM2.9 Electron holography and Lorentz microscopy; 2.10 Image simulation; 3 Practice of HREM; 3.1 Sample preparation; 3.2 Specimen preparation methods; 3.3 Structure analysis by X-ray diffraction; 3.4 TEM observation; 3.5 HREM observation; 3.6 Fourier filtering; 3.7 Resolution of HREM images; 3.8 Prevention of damage and contamination; 3.9 Taking images and reading data; 3.10 Mental attitude for TEM; 4 Characterization by HREM; 4.1 What information can be obtained?; 4.2 Direct atomic observation; 4.3 Crystallographic image processing. 
520 |a <!Doctype html public ""-//w3c//dtd html 4.0 transitional//en""> <html><head> <meta http-equiv=content-type content=""text/html; charset=iso-8859-1""> <meta content=""mshtml 6.00.6000.17110"" name=generator></head> <body> High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes. </body></html> 
546 |a In English. 
590 |a ProQuest Ebook Central  |b Ebook Central Academic Complete 
590 |a eBooks on EBSCOhost  |b EBSCO eBook Subscription Academic Collection - Worldwide 
590 |a Knovel  |b ACADEMIC - Nanotechnology 
650 0 |a Transmission electron microscopy. 
650 0 |a High resolution electron microscopy. 
650 0 |a Nanostructured materials. 
650 6 |a Microscopie électronique à transmission. 
650 6 |a Microscopie électronique à haute résolution. 
650 6 |a Nanomatériaux. 
650 7 |a SCIENCE  |x General.  |2 bisacsh 
650 7 |a High resolution electron microscopy  |2 fast 
650 7 |a Nanostructured materials  |2 fast 
650 7 |a Transmission electron microscopy  |2 fast 
650 7 |a Nanostrukturiertes Material  |2 gnd 
650 7 |a Durchstrahlungselektronenmikroskopie  |2 gnd 
650 7 |a Hochauflösendes Verfahren  |2 gnd 
776 0 8 |i Print version:  |z 3110304724  |z 9783110304725 
856 4 0 |u https://ebookcentral.uam.elogim.com/lib/uam-ebooks/detail.action?docID=1663098  |z Texto completo 
936 |a BATCHLOAD 
938 |a Askews and Holts Library Services  |b ASKH  |n AH26342244 
938 |a De Gruyter  |b DEGR  |n 9783110305012 
938 |a ProQuest Ebook Central  |b EBLB  |n EBL1663098 
938 |a ebrary  |b EBRY  |n ebr11010257 
938 |a EBSCOhost  |b EBSC  |n 887020 
938 |a ProQuest MyiLibrary Digital eBook Collection  |b IDEB  |n cis28108423 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 10818110 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 13157060 
994 |a 92  |b IZTAP