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Metal impurities in silicon-device fabrication /

Metal Impurities in Silicon-Device Fabrication treats the transition-metal impurities generated during silicon sample and device fabrication. The different mechanisms responsible for contamination are discussed, and a survey given of their impact on device performance. The specific properties of mai...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Graff, Klaus, 1931- (Autor)
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1995.
Colección:Springer series in materials science ; 24.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

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