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Nonlinear transistor model parameter extraction techniques /

Achieve accurate and reliable parameter extraction using a broad range of techniques and models provided.

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Rudolph, Matthias, 1969-, Fager, Christian, Root, David E.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Cambridge, UK ; New York : Cambridge University Press, 2012.
Colección:Cambridge RF and microwave engineering series.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

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